经静脉途径拔除心脏植入型电子装置电极导线的回顾性分析

作者：亚库普江·麦麦提; 周贤惠^*

来源：中国心脏起搏与心电生理杂志, 2023, 37(04): 306-310.

DOI：10.13333/j.cnki.cjcpe.2023.04.005

• 心血管病学
• 心脏植入型电子装置
• 经静脉导线拔除
• 并发症

目的 分析经静脉拔除(TLE)心脏植入型电子装置(CIED)电极导线结果并筛选出并发症的危险因素。方法 回顾性分析2016年1月至2021年12月就诊于新疆医科大学第一附属医院，因各种原因行TLE患者的临床资料。通过向前逐步logistics回归分析筛选出并发症的危险因素。结果 经TLE术的69例患者中，年龄65(58,75.5)岁，女性占44.9%。其中囊袋感染20例，参数异常或者升级CIED装置18例，电极相关并发症31例，总共拔除94根导线，导线植入年限为19.00(5.0,95.50)个月，最长植入时长314个月。电极完全拔除成功率为97.1%,临床拔除成功率为100%。6例患者拔除中出现并发症，总体并发症发生率8.7%,严重并发症发生率为1.4%。单因素和多因素logistics回归分析显示初始电极植入时间≥10年会增加TLE术并发症发生风险(OR=9.054,95%CI 1.214～67.518,P=0.032)。结论 TLE是处理CIED电极相关并发症主要的手段，安全性及有效性较高。CIED初始电极植入时间≥10年会增加TLE并发症发生风险。

• 单位
  新疆医科大学第一附属医院