HAST在塑封微电路评价中的应用

作者：阳辉; 钟征宇; 黄文铮; 杜忠磊

来源：光源与照明, 2021, (03): 96-97.

• 塑封微电路
• 高加速应力试验
• 加速因子
• 失效模式
• 失效机理
• 偏置电压

湿热环境对塑封微电路(PEM)的可靠性影响较大,而相关标准均给出了PEM的加偏置高加速应力试验(HAST)方法的相关要求。基于此,文章介绍了HAST模型及其对PEM失效模式、失效机理的影响,以及加速因子计算和偏置电压施加准则。