介绍了近几年来图像分析技术在谷物食品结构研究中的应用新进展。其中利用磁共振成像技术对面包孔洞组织进行2D平面的非侵入性扫描研究,分辨率高,并且可以对面包生产过程中气孔动态变化进行追踪和统计;X光计算机微观断层扫描技术在计算机辅助下可以将物体不同角度X光扫描图像进行重建组合,将物体内部3D立体结构重现,并对任意平面进行非侵入性统计研究。
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