T/R阵列自动测试系统去嵌入技术研究

作者：彭安虎; 韩周安; 李志强

来源：中国测试, 2021, 47(07): 92-98.

• 去嵌入
• TRL校准
• T/R阵列自动测试系统
• 校准准确度
• 校准效率

为解决T/R阵列自动测试系统的链路校准准确度和校准效率的难题,提出一种基于TRL(thru,reflect,line)校准技术的链路去嵌入方法,通过建立测试系统的误差模型,并获取测试系统对TRL标准件的测试结果,运用TRL校准算法解算出各个误差项,实现测试系统去嵌入的目的。设计TRL标准件,并在Matlab中实现去嵌入算法,运用该方法对含有嵌入网络的滤波器模型实现去嵌入。去嵌入结果表明:在去嵌入频段内,增益测量误差<0.2 dB,驻波比测量误差≤0.07,传输相位测量误差≤2°,去嵌入耗时不随T/R组件规模的增大而增加,证明该方法可以提升T/R阵列自动测试系统的校准准确度和校准效率。

• 单位
  电子科技大学; 成都爱科特科技发展有限公司