粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定稀土镁中间合金中镁锰硅钛钙铁

作者：卜兆杰; 蒋春宏; 陶泽秀; 寇德祥; 康强

来源：冶金分析, 2018, 38(03): 61-64.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010124

• X射线荧光光谱法(XRF)
• 粉末压片
• 稀土镁中间合金
• 镁
• 锰
• 硅
• 钛
• 钙
• 铁

以粉末压片法制样,采用X射线荧光光谱法(XRF)测定稀土镁中间合金中Mg、Mn、Si、Ti、Ca、Fe含量。对样品的矿物效应、样品粒度及成型试验进行了分析研究,通过实验发现利用不同产地的标准样品制作校准曲线,矿物效应影响不大;通过将样品粒度研磨至不大于74μm,能很好的解决粒度效应的影响。精密度实验表明,待测组分的相对标准偏差(RSD,n=10)均不大于2.8%;对来自不同产地的样品进行正确度考察,测定值与国标方法的测定值一致,满足GB/T16477—2010稀土镁中间合金中各组分含量的允许差要求。