基于PXI-4220和LabVIEW的小尺寸样品磁致伸缩性能测量系统

作者：南楠; 周天宏; 陈杰

来源：中国测试, 2016, 42(12): 87-90.

• 磁致伸缩
• 数据采集卡
• LabVIEW
• 惠斯登电路
• 磁滞

为满足实验室条件下对样品磁致伸缩性能测试的需要,在LabVIEW环境下,控制NI PXI-4220双通道数据采集卡(搭载于PXI-1042Q机箱中)和由KEPCO BOP 72-6D型程控电源提供电流信号的GMW 5043-76 mm型自动电磁铁,并配合RS Pro 2 mm导线接端应变片以及自制的样品载台,成功开发适用于小尺寸样品的磁致伸缩测量系统。系统采用NI PXI-4220内置的半桥-I型惠斯登电路采集动态应变信号,并由Lab VIEW程序自动进行数据处理。以CoFe2O4陶瓷作为试样置于该系统下测试,所得的磁致伸缩曲线反映出灵敏的应变-外场响应和明显的磁滞特点。经零点补偿换算后,测试样品的饱和磁致伸缩值为200×10-6300×10-6,在有效范围之内。该系统具有搭建快捷方便和功能模块扩展性强的特点。

• 单位
  湖北汽车工业学院; 武汉商学院