齐纳修调优化在ATE测试中的应用

作者：朱刚俊; 马培

来源：集成电路应用, 2023, 40(08): 46-47.

DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2023.08.018

• 集成电路测试
• 齐纳修调
• ATE测试

阐述芯片设计制造中的齐纳修调（Zenor Trim）原理，探讨一种齐纳修调的自动化修调及优化方法，此方法适用于芯片ATE测试中的CP测试和FT测试。