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摘要
为解决LED芯片检测与分选中的漏扫、匹配错误等关键问题，提出自适应变步长扫描方法。该方法对当前局域分布特性进行分析，利用晶圆片局部形变的连续性与保持性对邻近区域芯片分布进行预测，实施步长调整。在检测端，提出基于8邻域位置模型的区域芯片分布特征表征与描述方法，确立自适应步长调整策略，建立物理地址映射视图以及归一化逻辑视图。在分选端，利用已知物理地址映射图和归一化逻辑视图，对扫描区域、步长与路径进行规划，在遍历芯片的同时，实现芯片匹配。实测表明，相比冗余方法，该方法能够以低于4%的冗余率，实现漏扫率低于0.5%，提升扫描效率近23%。由于只针对有意义的芯片进行查找，可实现接近100%的匹配率，显著改善了算法效率和抗干扰能力。
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