摘要

用熔融急冷法制备了系列不同Tm~(3+)离子掺杂浓度的Ge-Ga-S-CsI硫卤玻璃,测试了样品折射率、吸收光谱以及800 nm激光抽运下的近红外及中红外波段荧光光谱特性。用Judd-Ofelt理论计算分析了Tm~(3+)离子在Ge-Ga-S-CsI硫卤玻璃中的强度参数Ω_i(i=2,4,6),自发辐射跃迁几率A,荧光分支比β和辐射寿命r_(rad)等光谱参数。讨论了800 nm激光抽运下的样品近红外及中红外荧光特性与Tm~(3+)离子掺杂浓度之间的关系,并用McCumber(MC)理论和Futchbauer-Ladenburg(FL)公式分别计算了1.8μm和3.8μm处的受激发射截面。