耐电晕纳米有机硅氧化物杂化聚酰胺酰亚胺复合薄膜的制备及其介电性能

作者：刘莉; **强; 陈昊^*; 赵伟; 范勇

来源：绝缘材料, 2021, 54(09): 30-35.

DOI：10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2021.09.004

• 聚酰胺-酰亚胺
• 纳米有机硅氧化物
• 介电性能
• 耐电晕

采用甲基三乙氧基硅烷、正硅酸乙酯进行水解、聚合,得到纳米有机硅氧化物溶胶,将其折算成SiO2当量,通过高速剪切与聚酰胺酰亚胺(PAI)树脂混合,经铺膜和热固化后制备得到有机硅氧化物杂化PAI复合薄膜。采用红外光谱、X射线衍射和SEM对复合薄膜进行表征,并对复合薄膜的介电谱、电气强度和高温(155℃)耐电晕寿命进行测试。结果表明:纳米有机硅氧化物在树脂基体中以无定形态均匀分散;随着纳米有机硅氧化物含量的增加,杂化PAI复合薄膜的介电常数、介质损耗因数都逐渐增大,电气强度逐渐降低,耐电晕寿命先升高后降低,当纳米有机硅氧化物质量分数为15%的SiO2当量时,其高温耐电晕寿命是纯PAI薄膜的4.1倍。

• 单位
  哈尔滨理工大学