局部“自修复”电子系统的构建及其可靠性分析

作者：巨**; 张海川; 解双建

来源：河北科技大学学报, 2011, S1: 113-115.

• FPGA
• 胚胎电子
• 自修复
• 可靠性模型

利用FPGA较强的抗ESD损毁效应及其可重配置特性,引入胚胎电子思想,构建了局部"自修复"电子系统模型,通过信道冗余和胚胎阵列的重构机制实现了电子系统的局部"自修复"功能。对构建的模型进行可靠性分析,发现冗余信道数量和单个信道的可靠性是影响系统可靠性的两个主要因素。

• 单位
  中国人民解放军63961部队; 中国人民解放军陆军工程大学