分光光度法测定高纯氧化铝中痕量硅方法改进

作者：王振越; 韩凤兰^*; 康森; 常慧; 滕斌

来源：轻金属, 2019, (11): 16-21.

DOI：10.13662/j.cnki.qjs.2019.11.004

• 分光光度法
• 氧化铝
• 痕量硅
• 硅钼蓝法

采用硅钼蓝法测定氧化铝中硅的含量,用硫酸(1+5.5)作为溶剂溶解氧化铝粉末,显色剂采用钼酸铵与硅络合,再用L-抗坏血酸还原,并加入2.0 ml柠檬酸,在波长815 nm处用3 cm比色皿测定硅的含量。在50 ml体系中,Si含量在低于20μg时与吸光度呈良好的线性关系,r2=0.99696,用该法成功检测了氧化铝中痕量硅元素的含量,检测范围为0.64～15μg/g,标准偏差小于8%,标准回收率在93%～105%之间。该方法用于检测高纯三氧化二铝粉末,成本低廉,精密度高,其推广使用对蓝宝石生产具有重要意义。

• 单位
  北方民族大学