基于确定性测试图形的BIST构建方法

作者：葛鹏岳; 黄考利; 刘晓芹; 连光耀

来源：计算机测量与控制, 2011, (04): 803-805.

• 内建自测试
• 确定性测试图形
• 粒子群优化算法 biiuld-in self test
• deterministic test pattern
• particle swarm optimization

为降低内建自测试(Build-in Self Test,BIST)的测试功耗,提出了一种基于确定性测试图形的内建自测试构建方法:首先采用D算法生成测试所需的测试图形,然后使用粒子群算法对其进行优化,使内建自测试的功耗大幅度降低;文中最后以ISCAS’85Benchmark中的部分电路作为实验对象,并给出了测试图形优化前后的功耗数;实验结果证明该方法能够有效降低内建自测试的测试功耗,并且具有方法简单、无需额外硬件开销的特点。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学