不同空腹血糖受损下限切点对重庆地区人群代谢状态的影响

作者:张素华; 任伟; 李蓉; 龚莉琳; 李革; 李启富; 卢仙娥; 汪志红; 陈静; 包柄楠; 杜娟; 王继旺; 吴豪杰; 白小苏
来源:中国糖尿病杂志, 2006, (01): 43-46.
DOI:10.3321/j.issn:1006-6187.2006.01.018

摘要

目的寻找预测2型糖尿病(T2DM)和糖耐量减低(IGT)发生的最佳空腹血糖受损(IFG)下限切点及其对代谢状态的影响。方法采用横断面调查的方法对重庆局部地区3189例既往无糖尿病史的自然人群的空腹血糖(FPG)进行ROC分析,绘制ROC曲线,并进行糖脂代谢调查和分析。结果预测T2DM和IGT发生的最佳IFG下限切点ROC曲线下面积分别为0.899和0.728。用FPG来预测T2DM和IGT,其灵敏度及特异度均较好的点分别为5.6 mmol/L和5.2mmol/L。在负荷后2 h血糖(2 hPG)<7.8 mmol/L人群中,与FPG<5.6 mmol/L亚组比较,FPG5.6~6.1 mmol/L亚组肥胖、高血压、代谢综合征和胰岛素抵抗的发生率分别增加了53%、54%、60%和126%。IFG下限切点下调前后,糖调节受损(IGR)各亚组组分的代谢特征不改变。结论将5.6mmol/L作为IFG的下限值适用于中国人群。

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