阵列感应测井HDIL趋肤效应影响校正

作者：陈坤; 徐思慧; 冯加明; 李亨

来源：当代化工, 2021, 50(02): 379-383.

DOI：10.13840/j.cnki.cn21-1457/tq.2021.02.029

• 阵列感应测井
• HDIL
• 视电导率
• 趋肤效应校正
• 虚部分量法

趋肤效应校正是阵列感应测井信号聚焦合成前的必要步骤,对信号聚焦合成的效果起着至关重要的作用。根据复合线圈系理论和电磁场理论,提出了一种仅使用均匀介质中视电导率虚部分量的趋肤效应校正新方法。分别使用迭代法、导数多频率法和虚部分量法对阵列感应测井HDIL的趋肤效应进行校正,定量分析了这3种方法的校正效果。结果表明:虚部分量法校正效果最好,趋肤效应校正后,在地层电导率为0.001～10S·m-1的范围内,子阵列1～5的最大相对误差为0.13%,子阵列6的最大相对误差为1.3%。子阵列7在地层电导率为0.001～5 S·m-1的范围内最大相对误差为2%,在地层电导率为5～10 S·m-1的范围内最大相对误差为8.9%。研究结果为阵列感应测井趋肤效应校正提供了新的思路,对3种方法校正效果的综合分析有助于阵列感应测井仪器的研发和改进。

• 单位
  油气资源与勘探技术教育部重点实验室; 中海油田服务股份有限公司; 长江大学