基于AR-TFM方法的超声成像分辨力提升

作者：史思琪; 林莉; 严宇; 廖静瑜; 张晓峰; 杨会敏; 金士杰^*

来源：无损检测, 2021, 43(12): 1-80.

• 自回归谱外推
• 全聚焦方法
• 成像分辨力
• AR-TFM

将多频带自回归(AR)谱外推和全聚焦方法(TFM)相结合,提出了一种AR-TFM方法,可将超声成像分辨力从波长级提升至亚波长级。采用基于高阶累积量的奇异值分解方法确定AR阶数,选择多组有效频带外推处理全矩阵数据中的阵列信号,并对结果进行平均加权,最后实施延时叠加和逐点成像,提高该方法的适用性和鲁棒性。分别采用TFM和AR-TFM方法对碳钢试块进行检测,并对其检测结果进行对比。仿真和试验结果表明,AR-TFM方法能够突破瑞利准则的限制,有效提高超声成像分辨力,实现了碳钢试块3个中心距为0.7λ(λ为超声波长)的相邻圆孔的分离,缺陷深度定位误差不超过1.8%,中心距定位误差不超过15%。

• 单位
  大连理工大学; 核工业工程研究设计有限公司