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摘要
以球形SiO2颗粒为研究对象搭建高温测试实验台,用光学粒子计数器(OPC)测定了25800℃下的颗粒数及其累计分布,并进行扫描电镜(SEM)和X射线衍射(XRD)分析,研究了高温对颗粒物在线检测结果的影响。结果表明,随加热温度升高,SiO2颗粒的粒径先变小后增大再变小,但颗粒物形状未发生变化;XRD衍射峰强度整体变弱,2θ≈25.5o处的衍射峰宽化并移动,晶胞体积先增大后变小。根据SiO2晶胞体积与晶体介电常数的关系可排除加热使颗粒物粒径变化,温度升高导致SiO2颗粒晶体内部结构变化、晶体折射率变化,使测量结果存在23个粒径通道的误差,影响测量精度。
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