基于白光干涉技术的黏性土真实接触面积细观试验研究

作者：杨苏春; 张明义^*; 刘俊伟; 管金萍; 王永洪; 白晓宇

来源：济南大学学报(自然科学版), 2020, 34(05): 490-497.

DOI：10.13349/j.cnki.jdxbn.20200515.004

• 白光干涉
• 黏性土
• 压应力
• 孔隙率
• 接触面积

为了揭示黏性土受压时的真实接触面积及细观物理参数的变化规律,利用白光干涉技术测量黏性土在高压应力作用下的真实表面轮廓,对不同压应力作用下表面轮廓点云数据进行分析,并通过Logistic函数推导极限压缩状态下的极限值。结果表明:压缩后的黏性土真实表面轮廓呈偏态分布,存在黏性土颗粒的支撑中心及颗粒压缩接触域;在106～529 MPa的压应力作用下,黏性土实际接触面积占截面面积的比例为0.375～0.431,表观孔隙率为52.5%～55.4%,随着压应力增大,孔隙范围有集中趋势且存在极限值;在支撑中心上、下1倍粒径范围内,表面轮廓分布存在极限渐进值。

• 单位
  土木工程学院; 青岛理工大学