对某款实际应用的汽车控制单元连接器进行温度循环耐久试验，利用控制单元供电电压对整个试验过程中连接器端子接触电阻增加情况进行监控，并通过电路热成像、扫描电镜(SEM)及能谱仪(EDS)分析了连接器端子失效的原因。结果表明：连接器端子失效是由电路板不均衡发热与环境温度交变引起的摩擦腐蚀、材料氧化、金属扩散和金属蠕变等因素共同导致。
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