基于光克尔效应的时间分辨荧光光谱测试系统

作者:廖奕超; 田姣; 翁国恩; 胡小波; 陈少强*
来源:电子测试, 2020, (09): 19-15.
DOI:10.16520/j.cnki.1000-8519.2020.09.005

摘要

基于光克尔效应的时间分辨光谱测试技术主要用来研究发荧光的物质在受到激光照射时所表现出的瞬态行为信息。其主要思想是以空间函数来代替光学的响应时间函数,而其响应时间是通过两束光脉冲的相对时间差体现的。我们通过控制光学延迟可以控制两束光脉冲的时间差,并最终得到荧光物质受到激发光照射时表现出的瞬态行为信息。本文设计了一套基于光克尔效应的时间分辨光谱测试系统,其中光学延迟的软件控制系统由c#语言开发而来,通过控制直线精密滑台来实现光学延迟的控制。同时,考虑到样品的不同区域可能具有不同的性质,本文同时设计了一套由易语言开发的、能控制样品移动的软件控制系统,主要通过控制二维滑台来实现。