当PCB板上载到夹具过程中,由于夹具精度,人为等因素的影响,对基板坐标产生一定偏移及旋转的影响,从而对元器件装贴精度产生影响,因此对基准点进行特征提取,但具有比较大的局限性.由此提出一种基于尺度空间的SIFT算法的Mark点匹配方法,将图像上特征转化为尺度空间特征,可以只对一个Mark点进行匹配校正,消除电路板平面上平移误差和旋转误差,通过实验证明其精度能达到0.6个像素以下的亚像素级别的精度要求.
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