基于ICA和SVM的FPGA电磁泄露分析

作者：米芳; 张洪欣

来源：滨州学院学报, 2017, 33(02): 66-69.

DOI：10.13486/j.cnki.1673-2618.2017.02.011

• 电磁泄露分析
• 独立成分分析
• 支持向量机
• FPGA

针对FPGA在运算时会产生电磁泄露的现象,以简单逻辑运算为攻击目标,提出了一种基于支持向量机（SVM）的旁路攻击方法。通过电磁泄露信息采集平台实现电磁泄露信息的采集,以电磁泄露信息为特征信号,通过独立成分分析（ICA）对其进行特征提取。将经过ICA处理之后的信号作为新的特征向量,用已知逻辑运算情况下的样本训练多分类SVM,用训练好的多分类SVM对未知的简单逻辑运算的电磁泄漏信号进行分类。实验结果表明该方法能成功识别加、减、异或、左移、右移运算,其准确率达到了91.4%。

• 单位
  电子工程学院; 北京邮电大学