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摘要
以SiC和GaN为代表的第三代宽禁带电力电子器件的使用将进一步提升未来电力电子装置的效率和功率密度,使电力转换更加灵活可控。电机驱动是电力电子应用最早和最成功的领域,变频器和交流电机组成的变频电机系统已成为当代电力驱动的主流。然而,未来宽禁带器件的使用,将使变频电机绝缘系统承受更高频率、更快变换速度、更高电压的高频脉冲电压冲击,给现有较多的成型绝缘系统带来严峻挑战,传统正弦和直流电压下的绝缘检测、评估及预测技术不再适用于变频电机绝缘系统。本文首先对变频电机绝缘失效机理进行了总结,着重阐述了PWM电压应力及环境参数对变频电机绝缘局部放电统计特性及耐电晕绝缘寿命的影响规律;然后,结合IEC相关标准讨论了国内外行业关注的低压散绕电机PDIV测试及耐电晕寿命评估技术;最后,针对未来电力电子技术对变频电机绝缘系统的挑战,对现行标准存在的问题进行反思,并展望了未来变频电机绝缘领域应关注的重点。
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