磁性测厚仪的测量系统分析

作者：杨志业; 李阳; 王进军; 耿莽河; 郭燕

来源：电镀与涂饰, 2022, 41(04): 295-297.

DOI：10.19289/j.1004-227x.2022.04.013

• 镀层厚度
• 磁性法
• 测量系统能力
• 基体粗糙度
• 校准
• 读数

根据测量系统分析方法，在镀层厚度为7.6～15.2μm的条件下对某磁性测厚仪的测量系统能力进行评估，并考察了基体粗糙度、校准方法和结果统计方法对测量系统能力的影响。结果表明，基体粗糙度(Ra)小于1.6μm，采用两点校准(含零点)，并以ASTM B499-09标准规定的舍点法进行统计时，测量系统能力较高，但仍不满足精确性公差比(P/T)小于30%的要求。