交流阻抗谱法检测热障涂层中热致氧化层的厚度

作者：邢岩; 王子媛; 郭思枞; 潘伟

来源：稀有金属材料与工程, 2018, 47(S1): 327-329.

• 交流阻抗谱
• 热障涂层
• 热致氧化层

采用交流阻抗谱法对1000℃高温氧化的热障涂层材料(TBCs)样品进行分析。结果显示,氧化时间100 h后,致密氧化物层形成,其厚度随氧化进程增加且成分也由氧化铝向混合氧化物转变。通过等效电路模拟对交流阻抗测试结果进行分析,得到了热致氧化层(TGO)电容与厚度倒数的正比例关系,实现了对TGO层厚度的检测。

• 单位
  新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室; 清华大学