摘要
本发明属于微波测试技术领域,公开了一种夹具去嵌入方法、系统、存储介质、计算机程序及应用,利用夹具分别夹持两段不同的传输线,分别测出整个系统的S参数[S~t],即[S~(t1)]和[S~(t2)];根据公式计算出夹具夹持的两段不同的传输线的S参数[S~(t01)]和[S~(t02)];设定[S]一个恰当的初始值,逼近出夹具的S参数[S]。采用本发明的方法夹具仿真数据与计算数据对比发现,采用双传输线的夹具去嵌方法,可以准确有效的提取出被测件两端的夹具S参数数据,为后续的半导体参数测试打好基础。相比传统的校准方法,具有实现简单,加工简单,对标准件的加工精度要求较低的特点,具有较好的应用价值。
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