NIST研究提高纳米粒子安全性评估的新方法

作者：何芳

来源：中国个体防护装备, 2011, (05): 53.

DOI：10.16102/j.cnki.cppe.2011.05.011

• 纳米粒子
• 安全性评估

<正>目前,美国国家标准技术研究院(NIST)的专家研究出一种方法—"俘获和释放"程序来控制纳米粒子。该方法是采用微弱的电流来影响纳米粒子的性能,使得科学家可以对暴露的纳米粒子进行细胞培养,并观察其细胞如何反应,这样可以获得细胞