IGBT门氧层老化故障模拟及其对开通特性的影响

作者：张忻庾; 向大为; 钟响

来源：新型工业化, 2018, 8(08): 17-22.

DOI：10.19335/j.cnki.2095-6649.2018.8.028

• IGBT门氧层老化故障
• IGBT开通特性
• 故障模拟
• 故障预诊断

IGBT作为中大功率变换器的核心器件,广泛应用于柔性直流输电、新能源发电、轨道机车牵引、电动汽车驱动以及航空航天等重要领域,其运行可靠性对确保系统安全、可靠、高效运行具有重要意义。门氧层是IGBT中相对薄弱的环节,有必要对门氧层老化故障开展相关研究。首先,讨论了门氧层老化的机理;其次,分析了门氧层老化故障对IGBT开通特性的影响;然后,研究了IGBT门氧层老化故障的模拟方法;最后,通过实验研究IGBT门氧层老化故障对其开通特性的影响。论文的研究工作有助于IGBT门氧层老化故障的早期预诊断,具有一定理论意义与工程价值。

• 单位
  同济大学