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摘要
针对单波长离轴全息显微成像系统存在的测量深度小以及相位解包裹算法存在相位模糊的问题,本文提出了一种反射式双波长离轴无透镜数字全息显微系统,该系统基于双波长离轴干涉技术,并利用二向色镜使两个不同波长参考光同时和物光进行离轴干涉形成全息图,最后采用双波长技术重建全息图得到合成波长的相位分布,从而实现单次采集两个离轴干涉图,达到拓展测量深度及避免相位解包裹运算时的相位模糊问题。本文首先从理论上数值模拟研究了双波长相位解包裹算法的有效性,最后,分别对磁流变抛光技术得到的光学表面抛光斑和标准光学分辨率板进行了双波长数字全息三维测量,实验初步验证了该系统的有效性和可行性。
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