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摘要
提高光电成像系统的抗散射介质干扰能力一直是光学中极具挑战的重要课题。在散射介质中，由于小颗粒的散射和吸收效应以及由此产生的强度或偏振特性的不均匀分布，往往会严重降低图像质量。基于大气光的偏振特性，使用偏振探测可以估计大气散射的强度、水平及透射率，将目标信号与干扰信号分离，以实现高质量成像。首先阐述基于偏振的去散射原理以及偏振信息的作用距离分析，随后介绍基于该原理的各类偏振成像系统的应用的最新进展，如基于偏振差分、斯托克斯矢量以及穆勒矩阵的偏振成像系统。最后对散射介质条件下的偏振成像的未来发展进行了展望。
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单位中国科学院; 中国科学院上海技术物理研究所; 中国科学院大学
