采用双向推拉试验向量实现SRAM高温动态老炼

作者：王云

来源：电子元器件与信息技术, 2019, (02): 6-10.

DOI：10.19772/j.cnki.2096-4455.2019.2.002

• 测试向量
• 试验向量
• 双向推拉
• SRAM最小系统试验线路原理
• IC高温动态老化系统
• 试验实现

试验向量生成和相应试验线路(老化板)图的设计,是进行IC(集成电路)高温动态老炼(化)试验过程的输入条件重要内容。在此从IC的测试向量原理、试验方法和程序要求出发,确定了一种IC高温动态老化系统进行具有较复杂功能的IC同一I/O引脚须同时序完成动态输入、输出和多地址单元数据存储功能并施加高温、负载和持续时间应力及波形监测的试验向量及老炼试验方法。以一种实际的双向推拉试验向量技术实现了SRAM CY7C199器件老炼试验为例,证实了此方法的可行性,并最终得到IC生产检验所需的试验向量和老炼试验方法文本。该方法有较好的实用性,对类似的较复杂功能器件(RAM、CPU、Flash、FPGA、ISPPLD、DSP、D/A等)的试验向量和试验方法生成,也有参考意义。

• 单位
  长沙韶光半导体有限公司