基于特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法

作者：王迪; 韩涛; 钱黄河; 刘智毅; 丁志华^*

来源：Acta Physica Sinica, 2022, 71(21): 186-194.

• 谱域光学相干层析成像
• 光谱相位
• 绝对波数标定
• 窗约束拟合

谱域光学相干层析成像(spectral-domain optical coherence tomography, SD-OCT)系统中普遍存在波数域的非线性采样问题.为实现常规快速傅里叶变换算法下离散界面的精确定位与OCT图像的高质量重建,需要解决光谱仪中离散采样点绝对波数的精确标定问题.本文提出了一种基于精确光程差下特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法,在谱域OCT系统的样品臂中,使用具有精确厚度差异的金属量规,获得特征谱线对应的绝对相位值,进一步精确求解出特征谱线对应的相位包裹次数,克服了常规干涉光谱相位方法中普遍存在的2π歧义,结合窗口约束条件下高信噪比区域的拟合相位,实现光谱仪采样点绝对波数的精确标定.通过全面比较本文方法与传统插值重采样方法在离散界面定位、轴向分辨率以及图像重建质量等方面的差异,验证了本方法的显著优势.

• 单位
  现代光学仪器国家重点实验室; 浙江大学