基因循环存储模块的SEU自检

作者：李丹阳; 蔡金燕; 孟亚峰; 朱赛

来源：半导体技术, 2016, 41(04): 312-318.

DOI：10.13290/j.cnki.bdtjs.2016.04.013

• 胚胎电子细胞
• 基因循环存储模块
• 单粒子翻转(SEU)
• 汉明码
• 自修复

胚胎电子细胞的基因循环存储模块在辐射空间容易受到单粒子翻转(SEU)影响,由于缺乏有效的自检手段,严重制约了胚胎电子阵列在深空等辐射环境中的应用。本文设计了一种新型的具有SEU自修复能力的触发器单元,并结合汉明纠错码,设计了一种新型的具有SEU自检和自修复能力的基因循环存储模块,可以在维持胚胎电子细胞阵列正常工作的情况下,实时有效的检测并修复1 bit SEU。以2 bit进位加法器为例,通过仿真实验,验证了胚胎电子细胞的SEU自检和自修复能力。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学