外加直流电场对人晶状体上皮细胞移行和增殖活力的影响

作者：韩静; 刘珺; 严宏; 闫小龙

来源：国际眼科杂志, 2017, 17(04): 619-622.

• 电场
• 人晶状体上皮细胞
• 细胞移行
• 凋亡
• 细胞周期

目的:观察外加直流电场对人晶状体上皮细胞(lens epithelial cell,LEC)移行和增殖活力的影响。方法:将培养的人晶状体上皮细胞系HLE-B3细胞暴露于电场强度为100、200、400mV/mm的直流电场中,未受电场暴露的细胞作为正常对照组。倒置显微镜观察并记录电场暴露前及暴露后的细胞图像,并计数细胞数目;流式细胞仪检测电场暴露前及暴露24h后的细胞凋亡率和细胞周期。结果:强度为400mV/mm的电场暴露3h后,HLE-B3细胞呈现朝向电场阴极一侧的定向移行。电场持续暴露后,HLE-B3细胞数逐渐减少,在电场作用6h和12h时分别较正常对照组减少12.6%和18.6%,差异均具有统计学意义(P<0.05)。100、200、400mV/mm电场暴露24h后,HLE-B3细胞凋亡率分别为(9.2±1.9)%、(23.9±2.6)%、(54±2.5)%,与正常对照组相比明显增加(P<0.05);细胞周期检测结果显示,HLE-B3细胞进入G2/M期的比例随电场强度增加逐渐上升,其中200mV/mm和400mV/mm电场中G_((2))/M期细胞比例分别为(13.8±2.2)%和(15.6±2.5)%,与正常对照组相比差异具有统计学意义(P<0.05)。结论:外加直流电场可诱导HLE-B3细胞的定向移行,随电场作用时间的延长和电场强度增加,细胞生长受到抑制,同时伴随细胞凋亡增加和细胞周期G2/M期阻滞。

• 单位
  第四军医大学; 唐都医院