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摘要
建立一种仿真与试验结合的电子产品可靠性评估方法，基于Bayes理论利用试验数据对已有的可靠性仿真结果进行更新。针对电子产品中广泛应用的指数分布，分别对平均寿命和失效率进行了详细讨论，给出其置信度和置信限的评估方法。在此基础上，为便于工程实际应用，进一步建立数值计算方法，并给出可靠寿命和可靠度的置信下限。理论分析和算例结果表明，本文方法通过对仿真信息和试验信息的融合利用，不仅可以减少试验量，而且能够有效提高电子产品可靠性评定精度和置信水平。
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单位上海机电工程研究所; 南京电子技术研究所
