摘要

本文介绍了灰色关联分析在某种砷化镓微波器件的寿命特征参数评价中的应用实例,分析结果表明栅-源截止电压(V(GS(off)))为其贮存寿命特征参数,年温度较差为最优影响因素。并用显著性检验方法对其进行了验证,结果表明灰色关联分析方法在寿命特征参数评价是可行的。