针对目前国内二次电池检测设备的落后现状,提出了一种基于ARM9嵌入式微处理器和复杂可编程逻辑器件(CPLD)可重构技术的嵌入式智能检测控制系统的硬件设计方法,利用CPLD的内部可编程的特性,解决了嵌入式系统因为控制逻辑变化而在硬件电路上必须作相应变化的问题。实验结果表明,该方法一方面可以提升硬件电路系统的通用性和柔性,另一方面可以提高开发效率、缩短产品开发周期。
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