头戴式耳机跌落冲击的仿真分析与实验

作者：林丽

来源：包装工程, 2021, 42(09): 37-43.

DOI：10.19554/j.cnki.1001-3563.2021.09.006

• 有限元分析
• 跌落冲击
• 头戴式耳机
• 高速摄影

目的对跌落测试中的破坏风险进行预测和改进,从而提升设计效率。方法基于Abaqus,对头戴式耳机进行整机跌落仿真分析,对其在规定高度下撞击地面的整机结构耐冲击性进行研究,考虑到材料的非线性和应变率效应,采用质量缩放、应力包络图等技术来提升仿真效率,并将高速摄影下的实际跌落过程与仿真结果进行对比。结果数值仿真预测了产品在跌落过程中的破坏风险,并对优化后的设计进行了验证,与实验结果高度吻合。结论在头戴式耳机一类消费电子产品的设计中,合理利用数值仿真,可有效缩短产品研发周期,降低研发成本,提升产品质量,从而提高产品的市场竞争力。