耐压薄壁组件失效分析研究

作者：王祥; 罗锡

来源：机械研究与应用, 2018, 31(04): 163-169.

DOI：10.16576/j.cnki.1007-4414.2018.04.055

• 耐压薄壁组件
• 失效分析
• X-Ray
• SEM&EDS

通过对耐压薄壁组件失效故障件的分析,介绍了对耐压薄壁组件分析的过程和方法,通过采用X-Ray测试,金相分析,SEM(扫描电镜)&EDS(能谱仪)等分析措施,得出了引起耐压薄壁组件鼓包失效的主要原因,为后续工艺改进提供了参考。