本文首先对附件数据进行数据分析和处理,然后通过对变量的相关性分析和多元线性回归分析,得出关键因素,最后我们构建BP神经网络评价模型,通过模型识别出不合格的半导体产品,并给出了产品不合格的原因。通过构建的BP神经网络模型,能够很好的解决半导体产品质量评估问题,并为此行业的类似问题提供了一种新的解决途径。
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