基于SRAM配置技术的FPGA测试方法研究

作者：赵娟; 王月玲; 刘明峰; 于宗光; 王成

来源：半导体技术, 2007, (09): 804-808.

DOI：10.13290/j.cnki.bdtjs.2007.09.016

• FPGA测试
• CLB测试
• 互连测试
• 故障覆盖率 FPGA test
• CLB test
• PI test
• fault coverage

在FPGA的设计生产过程中,FPGA的测试是一个至关重要的环节。分析了基于SRAM配置技术的FPGA的结构组成及FPGA的基本测试方法。针对6000门可编程资源的FPGA,提出了一种基于阵列和长线线与测试CLB以及采用总线测试开关矩阵相结合的方法。该方法较利用与门或门传递错误信息的所需测试配置次数减少了一半,从而加快了测试速度。

• 单位
  江苏大学; 中国电子科技集团公司第五十八研究所