模拟电路性能减弱问题主要是由于某些元件参数出现漂移造成的电路功能性障碍,电路故障分为了单元件漂移故障以及多个元件漂移故障,在进行问题检测与诊断时,单故障电路可以通过故障字典来定位问题元件,而多故障电路需要变化激励节点方位,产生一个对比电路,再利用网络撕裂法,将其分成若干个子电路,之后运用故障字典来查找问题元件以及漂移数值。
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