为满足用户端芯片识别、分类统计的需求,针对光照系统光不均匀性问题,提出一种基于改进Otsu算法的芯片识别分类系统.通过对全局灰度值判断的方法,能够自适应地选择阈值分割方式,以达到识别不同底色芯片盒的目的;通过采取改进Otsu自适应阈值的方法,以消除光照不均匀性带来的影响;通过使用芯片轮廓先验信息,以对最终提取的芯片轮廓进行修正,保证每一个芯片的完整性.实验结果表明,采取该算法能够有效对不同类型芯片盒内芯片的轮廓进行提取,实现了芯片的识别与分类.
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