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摘要
随着复杂集成电路的飞速发展,SoC产品成为了整机系统的重要解决方案。由于此类产品的复杂结构、多时钟域特性,对测试方法和测试技术也提出了更高的要求。尽管测试仪器设备及测试手段在近年来也在快速发展,但是仍然不能完全满足此类产品发展的需求。如何快速、有效地完成此类产品的测试一直是测试从业人员特别关注的问题。针对此类多时钟域产品,共时测试方案是一种高效的解决方案,但是其实现过程较为复杂,其向量转换、测试程序开发等方面都需要借助特别的手段来实现。主要针对多时钟域产品共时测试开发的解决方案、向量转换等问题进行了研究,并给出了基于V93k ATE进行单时钟和多时钟测试等多种解决途径。
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