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摘要
对比度灵敏度是描述计算机断层成像(CT)系统分辨图像细节特征能力的参数,其主要受图像统计噪声水平的影响。本文介绍了CT对比度灵敏度的测量方法,并用直径50mm的均匀有机玻璃圆柱作样品测量225kV-3D-ICT系统的对比度灵敏度,在X光机电压为160kV的条件下,得出在0.3mm×0.3mm×0.3mm范围内的对比度灵敏度约为1%。并讨论了系统的稳定性、硬化校正和重建滤波参数对测量结果的影响。
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对比度灵敏度是描述计算机断层成像(CT)系统分辨图像细节特征能力的参数,其主要受图像统计噪声水平的影响。本文介绍了CT对比度灵敏度的测量方法,并用直径50mm的均匀有机玻璃圆柱作样品测量225kV-3D-ICT系统的对比度灵敏度,在X光机电压为160kV的条件下,得出在0.3mm×0.3mm×0.3mm范围内的对比度灵敏度约为1%。并讨论了系统的稳定性、硬化校正和重建滤波参数对测量结果的影响。
