摘要
为挖掘甜瓜抗镉种质资源,以野生、薄皮和厚皮甜瓜为试材,幼苗三叶一心时用不同质量浓度(0~100 mg·L-1)的镉溶液培养3 d后取第2片真叶制片,透射电镜观察叶绿体超微结构;培养7 d后测定光合色素质量分数。结果表明,正常生长条件下,叶绿体紧贴细胞内壁,呈梭形。而随着Cd2+质量浓度增加,叶绿体逐渐呈离壁不规则形状,叶绿体膜部分缺失,淀粉粒体积明显变大。Cd2+质量浓度最大时,薄皮和厚皮甜瓜叶绿体超微结构受损较重,片层结构排列无序、疏松,叶绿体膜部分裂解;野生甜瓜叶绿体结构相对稳定,淀粉粒体积明显增大,片层结构疏松解体。同等Cd2+质量浓度对野生甜瓜叶绿体超微结构的影响最小,厚皮甜瓜叶绿体超微结构损伤最严重。Cd2+质量浓度为25 mg·L-1时,薄皮甜瓜叶片各色素质量分数均高于对照,Cd2+质量浓度50 mg·L-1时,光合色素质量分数低于对照;野生甜瓜和厚皮甜瓜各光合色素质量分数均逐步递减,且厚皮甜瓜降幅最大,野生甜瓜降幅最小。高浓度镉胁迫降低了甜瓜叶片光合色素质量分数,损坏了叶绿体结构,进而影响叶片的光合作用。供试的野生甜瓜幼苗抗镉性最强,厚皮甜瓜幼苗受镉胁迫最重。
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单位农业部; 甘肃省农业科学院蔬菜研究所