一种基于π型氮化钽薄膜电阻的MEMS衰减器

作者:朱光州; 张世义; 王俊强; 吴倩楠; 李孟委; 王志斌
来源:微电子学, 2021, 1-7.
DOI:10.13911/j.cnki.1004-3365.200594

摘要

针对传统衰减器体积大、反应时间长以及可靠性差等问题,本文提出了一种基于氮化钽薄膜电阻的MEMS衰减器。根据π型衰减网路理论计算得到各个电阻的阻值大小,并计算各个电阻的仿真尺寸,利用HFSS 15.0电磁波仿真软件对衰减器结构进行仿真计算并优化。通过修改磁控溅射参数制备稳定的氮化钽薄膜电阻,在此基础上制备MEMS衰减器。用矢量网络分析仪和探针台进行衰减器射频性能测试。测试结果表明,在0.1~20 GHz频率范围内,衰减器回波损耗均大于12.4 dB,插入损耗均小于2.1 dB,衰减精度均小于5 dB,整体尺寸为2.2×1.2×1 mm3。

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