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摘要
电子元器件是系统和组件的重要组成部分，提高电子元器件的可靠性是系统可靠运行的基础。在对产品发布之前需要对其可靠性的性能进行评估，因此需要对其进行可靠性试验。然而，在正常条件下对其进行试验所花费的成本是巨大的，特别是军用装备，可靠性要求更为严苛。因此需要研究一些试验方法来测试其可靠性指标。本文主要对常用的可靠性试验方法进行了介绍，包括高加速寿命试验、可靠性增长实验、加速寿命试验等可靠性试验方法，并对可靠性试验方法进行了总结和展望。
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单位中国电子科技集团公司第二十四研究所
