一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容错方法

作者：常龙鑫; 郭俊; 洪广伟; 虞致国^*; 顾晓峰

来源：电子与封装, 2020, 20(10): 32-38.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1002

• 软错误
• 可靠性设计
• RISC-V
• 检查点和回滚恢复

随着特征尺寸的不断减小,CMOS集成电路更容易受到软错误的影响,可靠性设计已成为处理器设计中的重要考虑因素之一。基于对RISC-V特权级别、系统上下文、映射方法的研究,提出了一种面向RISC-V处理器的检查点和回滚恢复方法,并基于此实现了一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容软错误架构。在基于Artix-7开发板实现的e203 RISC-V内核中对该容错架构进行了仿真试验。试验结果表明,所提方法可以实现预期的容软错误功能,提高了RISC-V处理器的可靠性。

• 单位
  江南大学