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摘要
随着NAND闪存芯片的存储容量持续增加，测试时间所带来的成本增加问题越发严重，本文围绕着如何降低单位测试时间和测试成本这一核心问题展开。在对闪存测试项目、测试方法分析的基础上，结合自动化测试设备（automatic test equipment,ATE）并行同测方法，提出新的输入输出总线复用测试方法，从而缓解闪存测试时间长、测试成本高的问题。以特定测试机台T5773为例，重新设计软硬件将测试机的并行测试吞吐率增加一倍，并对本设计中的一些基本问题如失效处理等进行了说明和解决办法汇总，最终减少单位测试时间44.4%，极大降低了闪存测试成本。因此，此方法可以运用于闪存大规模生产的成本控制。
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